多功能电子能谱(XPS) | |
状态 | 正常 |
品牌 | Kratos Analytical Ltd. |
型号 | Axis Ultra DLD |
存放地点 | 中心实验室 B109 |
联系人 | 刘玉萍 陈英军 |
联系电话 | 23499394 |
收费标准 | 校内:(1)常规分析 300/个(500/个),超过4个元素,每个元素加收50元(100元);(2) 表面清洁及价带谱;加收100元/个(200元/个);(3)深度剖析:20min内400元/点(600元/点);单点剖析超过20min按800元/时(1000元/时)。 |
简介 | 1.定性:元素种类及价态信息,可检测除H和He以外几乎所有元素;2.半定量:相对含量,非绝对含量;表面分析,非体相,检测深度小于10nm; 3.平行成像:元素XPS二维成像,200-800微米范围。 4.XPS价带谱测定 5.表面清洁及深度剖析 |