仪器名称 激光粒度仪
型号 XEN3690
生产厂家 马尔文公司
主要技术指标
粒径测量
-最大粒径范围: 0.3 nm - 10 μm *
-浓度范围: 0.1ppm – 40% w/v *
-检测角度: 175º 和 12.8º
-最小样品量: 12 μl
Zeta电位测量
-Zeta电位范围: 无实际限制
-电泳迁移率: 0 – 无实际上限
-最大样品电导率: 200mS/cm
-最大样品浓度: 40% w/v
-最小样品量: 150 μl
-粒径范围: 3.8nm - 100 μm *
分子量测量
分子量范围 342 - 2 ×107 Da * (动态光散射)
980 - 2 ×107 Da * (静态光散射)
最小样品量 12 μl，* 取决于样品
主要特点
新一代Zetasizer Nano ZS纳米粒度和Zeta电位及分子量分析仪
持续革新与优化 树立纳米分析新标杆
-融合多项专利技术 挑战颗粒表征极限
-粒度范围极宽:0.3-- 10 μm
-浓度范围广: 0.1ppm—40%(w/v)
-测量绝对分子量
-高分辨率高灵敏度Zeta电位测量
-最新专利zeta电位样品池具有所需样品量低至150 μl 和检测高浓度样品最高至40%(依赖于样品)的极限能力
上一位：吸附仪
上一位：接触角测量仪
型号 XEN3690
生产厂家 马尔文公司
主要技术指标
粒径测量
-最大粒径范围: 0.3 nm - 10 μm *
-浓度范围: 0.1ppm – 40% w/v *
-检测角度: 175º 和 12.8º
-最小样品量: 12 μl
Zeta电位测量
-Zeta电位范围: 无实际限制
-电泳迁移率: 0 – 无实际上限
-最大样品电导率: 200mS/cm
-最大样品浓度: 40% w/v
-最小样品量: 150 μl
-粒径范围: 3.8nm - 100 μm *
分子量测量
分子量范围 342 - 2 ×107 Da * (动态光散射)
980 - 2 ×107 Da * (静态光散射)
最小样品量 12 μl，* 取决于样品
主要特点
新一代Zetasizer Nano ZS纳米粒度和Zeta电位及分子量分析仪
持续革新与优化 树立纳米分析新标杆
-融合多项专利技术 挑战颗粒表征极限
-粒度范围极宽:0.3-- 10 μm
-浓度范围广: 0.1ppm—40%(w/v)
-测量绝对分子量
-高分辨率高灵敏度Zeta电位测量
-最新专利zeta电位样品池具有所需样品量低至150 μl 和检测高浓度样品最高至40%(依赖于样品)的极限能力
