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生产厂家
FEI捷克公司
型号
FEI Talos F200X G2
制造国家
捷克
主要规格及技术指标
200KV下TEM信息分辨率:0.12nm
200KV下STEM分辨率: 0.16nm
主要功能及特色
稳定的电子枪和高压设计;
大极靴设计及恒功率物镜设计;
轴向的STEM探测器,可以同时成像。
主要附件及配置
Super-X四探头能谱;
Ceta 1600万像素CMOS相机;
压电陶瓷样品台:
一体化加热样品杆。
上一位:120kV透射电子显微镜
上一位:冷场发射扫描电子显微镜
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